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LIKG鋼帶光柵尺

全新LIKgo系列產(chǎn)品設(shè)計精巧，專用于 滿足客戶需求

NUMERIK JENA推出的LIKgo系列增量式直線光柵尺采用全新設(shè)計，專為滿足客戶需求而開發(fā)

LIKgo是一款全新入門級光學(xué)掃描直線光柵尺，也是未來產(chǎn)品的基礎(chǔ)。全新和創(chuàng)新設(shè)計凝聚了NUMERIK JENA產(chǎn)品堅固、工 作可靠的全部特質(zhì)。

新一代光學(xué)掃描直線光柵尺

降低成本 采用標(biāo)準(zhǔn)化組件，直接降低直線光柵尺的生產(chǎn)成本和價格

高精度定位 全新三場掃描技術(shù)和感應(yīng)設(shè)計，有效提高信號質(zhì)量和穩(wěn)定性

縮短時間 優(yōu)化生產(chǎn)流程和選用預(yù)制的標(biāo)準(zhǔn)化編碼器組件，縮短交貨時間

全新LIK系列直線光柵尺易于使用、靈活通用和品質(zhì)好

讀數(shù)頭內(nèi)含專用傳感器模塊，采用全新三場掃描技術(shù) 多項改進(jìn)讓應(yīng)用獲益于：

?  小巧緊湊和輕量化的讀數(shù)頭

?  20 μm柵距和78.125 nm測量步距

?  全新三場掃描技術(shù)，更高信號質(zhì)量

?  無相位誤差和偏移誤差

?  更小細(xì)分誤差

?  超低功耗和發(fā)熱

?  在讀數(shù)頭內(nèi)細(xì)分TTL信號，無需其它電子電路

?  電子調(diào)整功能減小安裝后的靜態(tài)誤差，優(yōu)化調(diào)試工具連接

讀數(shù)頭